400-116-8986
双聚焦热表面电离质谱仪(Gaia型)
基于团队多年在磁质谱仪器研究和设计方面的经验,并结合最新的技术进步,开发了用于高精度同位素比值分析的双聚焦热表面电离质谱仪(Double Focusing Thermal Ionization Mass Spectrometer, DF-TIMS, 型号:Gaia型)。该仪器具有良好的线性和稳定性,能够提供从Li元素到U元素范围可靠的测试数据。
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产品介绍

产品特点:

1. 磁电双聚焦:突破传统思维,是首款采用磁-电双聚焦质量分析器的热质谱仪器,额外的静电分析器不仅克服加速高压纹波的影响,还增强了系统稳定性,在实际样品分析中表现出极其优异的性能。

2. 高精度测量:作为高精度同位素比值测量的质谱仪器,DF-TIMS可完全胜任各领域的分析需求。在Sr、Nd等同位素比值测量方面,测量精密度可达ppm级。

3. 全自动分析:DF-TIMS离子源最多容纳21个工位单/双灯丝样品带,带绝对值编码器的电机可以精确控制每个样品带的位置,配合离子透镜参数自动调谐,可实现全自动样品分析。

技术指标:

1. 质量范围:2-350 amu

2. 真空度:离子源≤5e-8 mbar(冷阱);分析室≤5e-9 mbar

3. 峰形系数:<0.3

4. 丰度灵敏度:不带阻滞过滤器为≤2 ppm;带阻滞过滤器为≤5ppb;

5. 法拉第杯放大器性能:动态范围为0-50V(正负离子模式);噪声≤20μVrms(11次方高阻4s积分);基线漂移≤1e-16 A/h;增益稳定性:<10ppm/24h

6. 离子计数器性能:计数噪声≤2cpm;探测效率≥95%;

7. 精度:内精度 RSE<5ppm(Sr, Nd,外精度 RSD<5ppm(Sr, Nd);

8. 稳定性:磁场稳定性 优于±25 ppm/min; 系统稳定性 优于±30 ppm/min;

9. 接收器质量色散范围:20%(ZOOM透镜变焦)。